Espectrómetro NIR-SWIR
- muy compacto (mini o micro espectrómetro): 52 x 57 x 17 mm
- diseñado para la industria
- con calidad de investigación
- lambdas entre 800 y 2100 nm
....pero también es excelente para uso de sobremesa y académico.
Características principales del espectrómetro compacto MAP-Siena en el SWIR (algunos lo llaman también NIR):
- longitudes de onda de hasta 2100 nm y desde 800 nm
- Tamaño miniatura; algunos lo llaman microespectrómetro o miniespectrómetro: 52 x 57 x 17 mm
- sensor InGaAs no refrigerado
- compensación de corriente oscura integrada: sin necesidad de ventilador ni refrigeración incluso hasta 2100 nm: gran reducción de tamaño y muy bajo consumo de energía
- alta sensibilidad / baja luz parásita
- Más asequible que nunca: no ofrecemos espectrómetros baratos o de bajo coste, pero podemos llamarlos espectrómetros económicos o de presupuesto dado su bajo precio en comparación con su gran valor.
El Siena lleva la espectroscopia del infrarrojo cercano en el NIR / SWIR a un nuevo nivel. Combina el rendimiento y la flexibilidad de un espectrómetro basado en array con el tamaño, el precio y la fiabilidad necesarios para aplicaciones móviles, OEM y sensores industriales. Por primera vez ofrece rangos de longitud de onda de hasta 2100 nm con un sensor matricial InGaAs no refrigerado.
Los espectrómetros SWIR suelen ser de alto rendimiento o de bajo coste. El MAP-Siena ofrece las prestaciones técnicas necesarias para realizar mediciones precisas a un precio adecuado para su integración en sensores portátiles e industriales o aplicaciones OEM. Se pueden medir con precisión grandes valores de absorbancia gracias a su sensibilidad superior, supresión de la luz parásita optimizada y alto rango dinámico. El MAP-Siena abre un sinfín de nuevas posibilidades para los sensores basados en NIR/SWIR.
Cuadro de modelos: espectrómetros SWIR de InGaAs MAP-Siena:
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Art. |
Wavelength range |
Resolution (*) (FWHM) |
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(nm) |
typ. (nm) |
max. (nm) |
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MAP-SIENA-0940-1700-20 |
940 − 1700 |
8 |
10 |
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MAP-SIENA-0800-1900-20 |
800 − 1900 |
12 |
14 |
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MAP-SIENA-0900-2100-20 |
900 − 2100 |
13 |
16 |
(*) Valores para rendija de 20 um
Otros datos relevantes del espectrómetro industrial MAP-Siena con prestaciones de laboratorio:
- su potente microcontrolador ofrece procesado interno: autoexposición, promediado, almacenamiento en búfer y sofisticado procesamiento del espectro
- software de aplicación completo y fácil de usar; SDK con código de demostración, controladores y documentación de protocolos
- rendijas de entrada opcionales reemplazables por el usuario (10, 20, 50, 75, 100, 150, 200, 300 um)
- conector SMA estándar, cables de conexión de fibra óptica opcionales
- opciones: colimador SMA o de conexión directa
- somos expertos en personalizaciones (sensor de imagen, rango de longitud de onda, filtrado,...)
Sensor de Imagen del espectrómetro NIR-SWIR MAP-Siena:
| Sensor type | InGaAs |
| Number of pixels | 256 |
| Exposure time range | 4 μs − 10 min |
| Signal-to-Noise Ratio * | 4800 |
| Dynamic Range ** | 14000 : 1 |
| Readout noise *** | 4.7 counts RMS |
| Trigger jitter | ≤ 1 μs |
(*) Max SNR without averaging, sensor gain set to low
(**) Without averaging, for a single pixel
(***) Typ. value for a single exposure, scaled to 16 bit
Óptica del espectrómetro NIR-SWIR MAP-Siena:
| Optical design | Symmetrical high-throughput Czerny-Turner |
| Focal length | 30 mm |
| Numerical aperture | 0.19 (equivalent area) |
| Stray light | 0.08 % |
| Detector lens | Included |
| Order sorting filter | Included (if required) |
| Optical interface | SMA connector (other interfaces on request) |
Nuestra oferta en medida espectral:
- espectrómetros compactos UV-VIR-NIR (185 – 1100 nm): MAP-Aris
- espectrómetros compactos NIR-SWIR (800 – 1100 nm): MAP-Siena
- espectrómetros compactos de alta resolución UV-VIS-NIR (380 – 1100 nm): MAP-Nylis
- fuentes de luz: MSS-LS
En PCL somos orgullosos socios comerciales – distribuidores del experto alemán Avenir Photonics para España y Portugal.
Si trabaja con láseres no olvide consultar nuestras secciones:
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